Investigación y Desarrollo.

La unidad de I+D tiene la misión de tomar proyectos de mayor envergadura para solucionar problemas críticos o crónicos a través de diagnósticos de alto nivel y soluciones tecnológicas especializadas.

Contamos con una herramienta superior para el análisis tribológico experto: un Microscopio Electrónico de Barrido, que permite determinar los modos tribológicos de desgaste junto con la metalurgia de las partículas individuales. Nos permite entender el componente bajo desgaste para enfocar la actividad de mantenimiento con el diagnóstico exacto.

Análisis Diseñados a Medida

Combinamos metodología científica, interdisciplina y la experiencia industrial de 60 años para desarrollar conocimiento pragmático de alto valor y de aplicación inmediata para nuestros clientes.
Participamos de los principales foros de discusión tecnológica a nivel internacional para proveer soluciones de vanguardia, adaptadas a la realidad local.

Minería Transporte Construcción Planta Industrial Construcción Naval Energía Forestal Gas & Oil Movim. Suelos Aeronáutica Farmacéutica
  • Tribología Avanzada
  • Modos de Falla y Causa Raiz
  • Ingeniería en Lubricación
  • Performance de Filtros
  • Nano Tribología
  • Performance de Lubricantes

Microscópio Electrónico de Barrido

Scanning Electron Microscope (SEM) - EDS

El Equipo

Modelo: Carl Zeiss MA-15
Cámara de Presión Variable
Platina computarizada de 5 ejes

Detectores

Detector de rayos X (EDS) Bruker Quantax 200 para determinar la composición de todos los elementos de la tabla periódica a partir de Boro (Z=5)
Detector de electrones secundarios con resolución de 20nm.
Detector de electrones retrodispersados con resolución de 20nm.
Detector de electrones transmitidos (STEM) con resolución de 1nm.

Beneficios

Enfocá las actividades de mantenimiento con el diagnóstico exacto.
Conocé qué, cómo y porqué se esta desgastando tu maquinaria. Detectá de forma prematura y evitá la pérdida de disponibilidad del equipo.

Nuestros Análisis

Aviación

Wear Debris Analysis en chip detectors.

Energía

Prevención del desgaste & análisis causa raíz.

Manufactura

Technical Cleanliness Analysis, filtros & validación de manufactura.

Diseñamos Soluciones de Lubricación

Expertos I+D

Andres Lantos

VICEPRESIDENTE CIENCIA Y TECNOLOGÍA / DIRECTOR I+D

Químico Analítico (UBA) y Doctor en Biotecnología (UNSAM). Cuenta con una amplia experiencia como investigador científico, analista y diagnosticador. Interpreta la necesidad industrial y la traduce a protocolos experimentales para desarrollar una solución confiable, practicable y mantenible. Colaborador de tecnología analítica y automatización en Wearcheck International y autor y conferencista para instituciones globales como ASTM, Noria e ICML.

Certificaciones internacionales ICML: MLT I, MLA III, LLA II, VIM, VPR, MLE

Agustín Ávalos

INVESTIGADOR ASISTENTE

Ingeniero en Materiales (CNEA-UNSAM) y Microscopista Electrónico. Co-diseña y ejecuta los proyectos de I+D externos e internos. Su conocimiento en materiales contribuyen a la mirada interdisciplinaria de la tribología. Su sensibilidad analítica detrás del microscopio electrónico agregan valor para la detección y comprensión de los mecanismos detrás de la formación de desgaste.

Certificaciones Internacionales ICML: MLT I

Franco Leiva

DESARROLLOS ANALÍTICOS y TECNOLOGIA

Técnico Químico (ENET 27) y estudiante de Química (UBA). Tiene experiencia como analista y diagnosticador. Co-diseña y desarrolla las metodologías analíticas del laboratorio, con foco en soluciones confiables, escalables y mantenibles. Responsable interno de la integración de producción, calidad y mantenimiento.

Certificaciones Internacionales ICML: MLA II

Luis Andraschnik

SISTEMAS DE LA INFORMACIÓN

Técnico Químico (EET Don Zeno), Licenciado en HyS y programador autodidacta. Cuenta con 20 años de experiencia en el campo de los lubricantes como analista y diagnosticador. Co-diseña y desarrolla el sistema informático enfocado en la automatización y la modernización permanente.

Certificaciones Internacionales ICML: MLA II